X 射线测重仪有什么功能？推荐哪种扫描架构

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近年来，很多厂家都会使用测量仪器对产品进行测量，市面上出现很多测量仪测重仪等仪器，X 射线测重仪是比较广泛应用的一种，今天大成精密给大家介绍一下，X 射线测重仪的功能。

X 射线测重仪，又叫X 面密度测量仪，利用X射线穿透物质时的吸收、反散射效应实现非接触式测量薄膜类材料的面密度。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度。

X 射线测重仪应用在锂电池正极涂布、锂电池隔离膜涂布、纸张的面密度测量。应用在锂电涂布工序时，该设备可放置于涂布机放卷后、涂布头前，测量待涂布基材的面密度；也可以放在烘箱外、收卷前，测量已烘干的极片面密度。

三种扫描架结构

该设备有三种扫描架结构，大理石O型架、铝模组O型架、铁方通C型架。比较推荐的是大理石O型架，天然大理石、无应力变形、长期稳定性好。相对于C型架，节省空间、扫描速度快。精度±0.8‰，最大扫描速度25m/mi，最大扫描宽度为1300mm。

其他两种扫描架结构也各有优点，铝模组O型架，相对大理石O架，性价比高；铁方通C型架，经济性好，但空间要求大。用户可以根据自己的需求来选择合适的扫描架。

X 射线测重仪功能

射线测重仪有高速数据采集，100KHz的原始数据采样频率，编码器脉冲位置与面密度模拟信号同步采样。还有友好的人机界面，具备防辐射结构专利，自动标识机构，实时监视系统。还有闭环控制功能：1、射线面密度测量仪与涂布机形成闭环控制2、提高涂布面密度一致性3、避免对人工经验和责任心的依赖性4、具备与多家涂布机联机闭环控制的现场经验

此外，X 射线测重仪还有极片长度、宽度、上下面侧边对齐度测量功能，面密度测量仪可集极片长度、宽度、上下面 对齐度测量功能。测量方式：光纤感应+编码器计数+极片纠偏错位探测传感器的方式，经济性好。

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